
汎用特殊試料ホルダー & アダプター FE-SEM 走査電子顕微鏡用,

オーダーメイド (特殊試料ホルダー & アダプター) のご紹介,

プロトチップス In-Situ観察用試料ホルダ液中観察試料ホルダー,

EM-Tec multiple stub holders for JEOL SEM cylinder stubs,

EM-Tec sample holders and sample stubs for the JEOL Neoscope,

オーダーメイド (特殊試料ホルダー & アダプター) のご紹介,

JEOL Common Specimen Holder: TEM Holders: Equipment,

プロトチップス In-Situ観察用試料ホルダー加熱・印加試料,

2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー | ARIM Japan公式,

光学顕微鏡 - JEM-F200 - Jeol - 透過型電子顕微鏡 / STEM / 実験用,

EM-Tec S-Clip SEM sample holders,

SEM specimen holders - Labtech,

Protochips社製 TEM用In-Situホルダー|計測機器のパイオニア,

EM-Tec S-Clip SEM sample holders,

TEM Specimen Holder Vacuum Pumping & Storage Station - PIE